膜厚测量原理：膜厚仪测量原理主要有哪些？

　   膜厚测量原理：经常在金属箔、塑料薄膜等行业的工作人员对膜厚仪应该不会太陌生，这是这些薄膜制品生产过程中必不可少的厚度测量工具，在它的使用下，提升了薄膜材料生产的一致性，保证了薄膜材料之间的均质度。

　　膜厚仪在实际使用中是以何种方式操作的呢?测量原理是什么呢?目前市场上出售的这种测量工具，主要分为手持式和台式两种，两种类型同样都能起到厚度检测功能，但在操作方式上会有很大的不同的，手持式从外观上看比较类似是平板手机的升级版，方便用户直接拿在手中使用，具有一定的便捷性。台式整体造型比较像台式电脑，体型比较大，虽然不如手持式的方便，但测试工作量大，符合大批量工厂化生产。现在言归正传，膜厚仪在测量方式上主要有两种，分别是磁感应测量和电涡流测量。

　　磁感应测量原理：

　　该原理是利用磁感线的穿透性能，以测头为载体，利用废铁覆盖层将磁感线流入到被测物中，这一步仅仅是以穿透的形式呈现的，并不会对被测物造成任何破坏，磁通和覆层之间的关系是当被测物覆层越厚，那么流进被测物的磁通受到的磁阻也就会越大，那么对应的磁通也就会越小;

　　电涡流测量原理：

　　利用高频交流信号的变化，在膜厚仪测头线圈中产生磁场，以便于测头靠经被测物时，在导体中形成涡流，在涡流形成之前，测头和导体之间的距离需把控好，一般情况下是导体基体和被测物之间的厚度值需保持在合理范围之内，不能超过被测物的厚度值。另外各位操作者需要了解的一点是并不是电涡流越大对测量效果越好，凡是都要讲究对应性，根据被测物基本属性和厚度范围决定电涡流大小;

　　以上这两种测量原理就是膜厚仪常使用的方式，不同的测量原理对应不同的测量对象，这一点需用户们根据实际情况进而选定。对于初次使用厚度测量设备的小伙伴或者是对其中任何一种测量原理不是很熟悉，小编在这里推荐大家还是不要轻意自行上手，为保证设备后续使用正常，还是由专业的技术人员操作，或者熟读设备使用手册，提升操作水平。